Беларусь является лидером в области атомной микроскопии и наномеханики

Беларусь занимает лидирующие позиции в области атомной силовой микроскопии и наномеханики. Об этом сообщил корреспонденту БЕЛТА ведущий научный сотрудник Института физики микроструктур Российской академии наук Виктор Миронов, который принимает участие в X Международной научно-практической конференции "Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии" в Минске

Беларусь занимает лидирующие позиции в области атомной силовой микроскопии и наномеханики. Об этом сообщил корреспонденту БЕЛТА ведущий научный сотрудник Института физики микроструктур Российской академии наук Виктор Миронов, который принимает участие в X Международной научно-практической конференции "Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии" в Минске

"Мы положительно оцениваем развитие сканирующей зондовой микроскопии в Беларуси. Группа исследователей во главе с заместителем председателя Президиума НАН Беларуси Сергеем Чижиком является лидером по наномеханике, по применению этих методов для исследования механических свойств разнообразных объектов", - отметил ученый.

Он уточнил, что Беларусь в данной области являются лидером на территории постсоветского пространства, а в некоторых аспектах - во всем мире. Белорусские ученые сотрудничают с Южной Кореей, Польшей, Вьетнамом, Саудовской Аравией и др.

"Технология сканирующей зондовой микроскопии - это глаза, руки, уши и даже нос разработок, выполненных в наномасштабе", - считает Сергей Чижик. Он подчеркнул, что данная область чрезвычайно интересна, поскольку открывает возможность проникновения в наномир.

В X Международной научно-практической конференции "Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии" принимают участие ведущие ученые и специалисты из Беларуси, России, Украины, Казахстана, Германии, Швейцарии, США, Польши и Румынии. Цель юбилейной конференции - обсуждение последних мировых достижений в развитии методов сканирующей зондовой микроскопии и их применения для решения научных и прикладных задач.

С 1996 года мероприятие поводилось как семинар по сканирующей зондовой микроскопии. С 2006 года семинар носил название "Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии". В 2010 году мероприятие получило статус конференции.

За последние десять лет сканирующая зондовая микроскопия превратилась из экзотической методики, доступной лишь ограниченному числу исследовательских групп, в широко распространенный и успешно применяемый инструмент для исследования свойств поверхности. Развитие сканирующей зондовой микроскопии послужило основой для совершенствования методов в нанотехнологиях.

БЕЛТА

Заметили ошибку? Пожалуйста, выделите её и нажмите Ctrl+Enter
Версия для печати
Заполните форму или Авторизуйтесь
 
*
 
 
 
*
 
Написать сообщение …Загрузить файлы?
Новости
Все новости